DRAM 테스트 카드 (TEST & WBI)
초정밀 테스트의 새로운 기준
Size
PH300 (12")
Max Pin Count
100K
Min Pad to Pad Pitch
55um
TRE
Max. 16 shared
Frequency
≤ 200MHz
STF Substrate
MLC / MLC+PI
Reference
Korea
Advanced Semiconductor Testing System
주요 사양
사이즈
PH300 (12”)
최대 핀 수
45K
최소 패드 간격
85um
TRE (테스트 리소스 강화)
Max. 16 Shared
주파수
≤ 100MHz
STF 기판
MLC
레퍼런스:한국, 대만, 중국
NAND FLASH 테스트 카드 (TEST & WBI)
TEST & WBI
Wire 프로브 카드 솔루션
미세 피치 및 낮은 누설 전류 테스트에 최적화된 설계
| ⚡성능 | 낮은 누설 전류 (Low Leakage) |
| 📏최소 피치 | 54.53um |
| 📍최대 핀 수 | 2,850ea |
Durability & Speed
고성능 Cobra 테스트 카드
양산 및 고속 테스트를 위해 설계된 강력한 내구성
테스트 유형Flat / Sharp
최소 피치50um (Sharp 테스트)
최대 핀 수5,605ea
MaxPin Count
<50,000Pin
Frequency
<8GHz
≥Current
400mA
Temp Range
-40°C ~ 150°C
Probe Force
0.4gf / mil
Full Contact
OD 50µm
SYSTEM ACTIVE
Strait 수직형 테스트 카드 솔루션
미세 피치 및 고속 테스트에 최적화
성능: 미세 피치 수직형 테스트 카드
최소 피치
＜ 40㎛
최소 핀
＜ 5000 Pin
고성능 Cobra 테스트 카드
최대 핀＜ 5000 Pin
Technical ParametersVertical MEMS Type
MaxPin Count
<50,000Pin
Frequency
<15GHz
≥Current
1A
Temp Range
-40°C ~ 150°C
Probe Force
0.3gf / mil
Full Contact
OD 50µm
Technical ParametersVertical Straight Type
MaxPin Count
<8,000Pin
Frequency
<3.5GHz
≥Current
600mA
Temp Range
-40°C ~ 150°C
Probe Force
0.5gf / mil
Full Contact
OD 50µm
SYSTEM ACTIVE
차세대 의료용 테스트 카드
의료 기기 테스트 및 패키징 솔루션을 위한 고난이도 기술
Compability
Film 및 WLCSP 호환 가능
Supports
Pad, BGA, Cu – Pillar 지원
Ultra & Fine 피치
속도 15GHz
메모리 ~ 비메모리 테스트 전환
V93K Ready
고객사 컨텍스트
중국 'I'사 및 글로벌 파트너
테스터 호환성
T5377, V93K
피치 범위
500um ~
STF 유형
MLWST
초고밀도 및 고주파수
8 GHz10,000핀 수
Cu-Pillar Pad MLO / VLWST V93K 플랫폼
초미세 피치 정밀도
8 GHz54μm
1,504 Pins Al Pad V93K 플랫폼
RF OPTIMIZED
SIGNAL INTEGRITY
8GHz STABILITY
커스터마이징 (맞춤형 제작)
고객의 요구사항에 최적화된 최상의 솔루션 제공
피치 < 40㎛
Strait 프로브 유형
핀 < 3,000핀
피치 > 50㎛
Cobra 프로브 유형
핀 30,000핀
피치 30㎛
MEMS 프로브 유형
핀 50,000핀
주파수: 최대 15GHz
고속 성능
컨택 유형